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泰克2015年度创新论坛启动聚焦大数据和工业40时代技术及解决方案万芳

发布时间:2020-02-14 11:43:48 阅读: 来源:多路阀厂家

泰克2015年度创新论坛启动,聚焦大数据和工业4.0时代测试测量技术及解决方案 - 测试测量 - 电子工程网

泰克公司日前宣布,泰克2015年度创新论坛(TIF)将于5月20日至29日分别在北京、上海、西安和深圳举行。本届TIF将与业界工程师共同分享泰克最新的产品突破以及满足大数据时代以高效能运算为核心的多种最新工业标准规范的测试方案。论坛现场还设立了12个展位,让与会者零距离参观、调试泰克各种测试测量解决方案和产品。

移动智能设备和云数据处理迅猛发展,特别是工业4.0时代的到来,使得云计算、云存储、移动互联网、智能硬件、多媒体高清显示设备等热门技术迅速普及,为新一轮的设计和测试测量技术带来了革新与挑战。 为此,本届创新论坛以“自主创新,工业4.0时代的测试测量”为主题,用十多个热点专题与与会者深度探讨工业4.0时代将带来的测试测量挑战与应对之道。“如何更加高效的解决工业4.0核心技术互联互通的测试问题,对工程师来说显得非常迫切和必要。”泰克公司大中华区市场总监徐贇指出,“泰克公司一直致力于应对工业发展中的各种测试挑战,拥有业界最具性价比、创新型的综合测试解决方案,能帮助工程师完美地解决各种挑战。本次TIF四地研讨会主题丰富,将帮助中国工程师提前为应对工业4.0时代的测试测量挑战做好准备。”

DPO70000SX系列示波器以颠覆性架构定义高端示波器新境界

在本届TIF上,泰克公司也将携划时代的DPO70000SX系列示波器亮相各大会场,由专家介绍DPO70000SX的专利技术异步时序交织(ATI)是如何实现傲视业界的低噪声、高保真的信号实时采集,并分享DPO70000SX是如何应用于超宽带、相干光、前沿研究、雷达及高速串行数据通信等相关的测试领域。

迎接USB3.1时代的变化与挑战

通用串行总线 (USB) 已经成长为很多嵌入式行业、汽车和消费应用中的常用接口。以往的USB 2.0 工作于480 Mb/s,而现行的USB 3.1 将数据速率提升了20倍、高达10Gb/s,这给工程师带来了全新的检定和验证挑战。本届TIF上,泰克将关注该主题的四个重点方面:USB 3.1和3.0之间的物理层差异;10 Gb/s通道定义和抖动预算;USB Type-C连接器测试概述;新的128b/132b编码方式及其对测试解决方案的影响。

加速多媒体高清设备标准的测试

移动多媒体平台的高速发展引领一系列显示技术的革命,因此多媒体高清设备接口测试也将是本届TIF关注的一个重点。论坛现场,泰克专家将介绍与HDMI2.0、DisplayPort1.2/1.3相关的最新显示接口标准的发展、测试要点和挑战,以及如何使用泰克的测试方案加速验证周期。

十四个专题,测试测量热点全覆盖

“在本届TIF研讨会上,北京、西安和上海站我们安排了A、B两个会场,以满足工程师对不同测试技术与方案的需求。并根据各地工程师的实际需求,论坛专题演讲安排有所侧重。” 徐贇介绍道。据悉,除上述论坛主题外,DDR4的标准更新及测试方案、泰克混合域示波器动手实用技能课程、泰克射频创新解决方案、可穿戴设备耗电测试、泰克智能实验室、信号完整性分析及一致性测试,以及覆盖至V波段的超宽带信号仿真及测试、克服先进显示材料的测量挑和工业4.0时代的互联互通测试解决方案,共十四个专题内容涵盖了当前测试测量的主要热点。“泰克的年度创新论坛一直是工程师了解测试测量技术发展最新现状与趋势的年度盛会,今年我们将继续为与会者带来一场测试测量技术的饕餮盛宴!”徐贇表示。

泰克2015年度创新论坛安排

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关于创新论坛更多细节或申请参会,请查询论坛官方主页:http://cn.tek.com/TIF

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